2025欢迎访问##菏泽NTS-116单相数显电测表厂家

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关于光谱分析入门光谱分析是一种测量技术；它通过测量材料与不同波长光的相互作用情况来检查材料的属性。有几种不同的交互作用可被测量，包括材料对光的吸收、反射和透射。材料的特性可通过测量有多少光能被吸收以及哪些波长的能量被吸收进行分析。吸收的波长取决于材料成分——脂肪、蛋白质和不同类型的糖分子——而吸收的强度由材料的内部成分的浓度决定。根据由材料表面层反射光的强度和波长，也可以对材料进行定性分析，而反射光的强度和波长由成分和表面本身的属性决定。
晶体管的噪声晶体管的噪声主要有热噪声、散粒噪声、闪烁噪声。热噪声是由于载流子不规则的热运动通过BJT内3个区的体电阻及相应的引线电阻时而产生。其中rbb所产生的噪声是主要的。通常所说的BJT中的电流，只是一个平均值。实际上通过发射结注入到基区的载流子数目，在各个瞬时都不相同，因而发射极电流或集电极电流都有无规则的波动，会产生散粒噪声。由于半导体材料及工艺水平使得晶体管表面清洁不好而引起的噪声称为闪烁噪声。
毫米波雷达应用于室内人员检测与跟踪是近几年新兴的技术，原理是电磁波信号通过雷达天线发射出去，被其发射路径上的物体阻挡而发生反射，再由雷达接收天线接收，通过对接收到的信号一系列，可以确定物体的距离、速度和角度等信息。目前用于室内人员检测与跟踪的传感器除了毫米波雷达以外，还包括超声、被动红外、主动红外（激光雷达、TOF）和光学摄像头等传感器，但是这些传感器容易受外部环境（如光照、温度等）影响，造成虚的出现。
20世纪80年始，非制冷红外焦平面阵列探测器在美国方支持下发展起来的，在1992年全部研发完成后才对外公布。初期技术路线包括德州仪器研制的BST热释电探测器和霍尼韦尔研制的氧化钒（VOx）微测辐射热计探测器。后来由于热释电技术本身的一些局限性，微测辐射热计探测器逐渐胜出。2009年，L-3公司 终宣布停止继续生产热释电探测器。之后，法国的CEA/LETI以及德州仪器公司又分别研制了非晶硅（a-Si）微测辐射热计探测器。
一般来说，时钟频率跑的越快，则CPU每秒所能完成的运算次数就越多，性能自然更好，随着时钟频率的增加，CPU就会变得越来越热，这是CPU内部CMOS管耗散功率加大的体现，过高的温度会影响系统的运行，所以有必要采取措施来“监控”CPU的温度，把它限制在一定温度范围内，以确保CPU的可靠运行。由于二极管工艺的特殊性，我们可以利用二极管的伏安特性来测量CPU的温度，它的伏安特性如下图：众所周知，将PN结用外壳封装起来，并加上电极引线就构成了半导体二极管，简称为二极管。
目前几乎所有通用品牌的主流示波器通道都不是隔离的，那么在进行多通道测试的时候，通道与通道之间会一定程度互相干扰，因此通道隔离度指标非常重要，隔离度越高的示波器测量就越。示波器作为工程师的“眼睛”，可以帮助发现很多问题，作为发现问题的工具，其准确性是至关重要的，在测试环境对示波器无干扰时，除了底噪会影响测试结果，通道隔离度也会对测试结果造成典型影响。通道隔离度是什么？顾名思义，通道隔离度就是任意两通道间信号相互影响程度的程度。
现把这两个问题的和解决过程与读者一同分享。系统概述及问题描述现简略的介绍该系统，其简略框图如下：该系统由两个模块组成，前端模块可插拔，在插入后会传输信号给FPGA，信号经过前端接收，A/D采样后进入FPGA信号，然后FPGA把过的信号通过PCIe接口传送给工控机进行后及显示。工控机也会通过PCIe接口控制FPGA的工作状态。前端的模块是可插拔的。个问题是该机器在测试时，发现在换模块时会偶发的出现工控机与FPGA的通讯异常的现象，该现象出现的频率很低，测试组的同事反馈在测试时经常会有换模块的操作，但该现象基本上几天才出现一次，虽然该现象概率低，但是问题影响甚为重大，必须攻破。