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滤波器在通信、事、测试测量等领域应用广泛，尤其在近几年的在微波及毫米波电路中有着广泛的应用。在低频段的应用中，集总参数滤波器有着良好的表现，但是随着频率升高到微波频段以上，集总参数元件(电容、电感)的Q值急剧下降，造成滤波器的插入损耗太大，这时就必须用分布参数元件来代替集总参数元件，但是分布参数元件滤波器的尺寸一般较大，因此有必要减小微波毫米波电路滤波器的尺寸。年 城市大学薛泉教授提出了一种紧凑的微带谐振器(CMRC)，此后螺旋紧凑微带谐振器(SCMRC)以及直线紧凑微带谐振器(BCMRC)又相继被提出。
分工频耐压试验和直流耐压试验两种。工频耐压试验其试验电压为被试设备额定电压的一倍多至数倍，不低于1000V。其加压时间：对于以瓷和液体为主要绝缘的设备为1分钟，对于以有机固体为主要绝缘的设备为5分钟，对于电压互感器为3分钟，对于油浸电力电缆为10分钟。电气设备经耐压试验能够发现绝缘的局部缺陷、受潮及老化。交流耐压试验：在被试设备电压的2.5倍及以上进行，从介质损失的热击穿观点出发，可以有效地发现局部游离性缺陷及绝缘老化的弱点。
而使用ZLG的AWTK，能够实现十分酷炫的显示和操作效果，并且能够实现跨的发，让呆板的界面一去不返。AWTK显示界面产品往往需要对数据分析，如何将数据立体直观的显示出来？是界面设计的一大难点。AWTK内置很多不同显示形式的设计，包括仪表盘、饼图、曲线图、柱状图等。能够直接展现数据，告别人为分析、呆板设计。AWTK显示界面工业控制随着计算机以及控制技术的发展，传统的工业控制技术已经逐渐地被智能控制技术所替代，智能化工业控制系统的发展为工业领域的发展了 强的技术保证，是推动企业持续创新发展的有效途径。
物联网(IoT)已逐渐深入现代人的生活，分析师估计2015年年底的 %。到了2020，这个数量预估将达到400亿台，远远超过地球的人口数。IoT的核心是让万物相连成为可能的连线技术。而在2015年后以及未来，有哪些值得关注的新兴连线技术趋势？首先是透过两种新无线技术上网与串流功能——5GHz频段的802.11ac与60GHz频段的802.11ad。由于消费者串流的内容愈来愈多，因此稳定的无线网路连线就变得更加重要。
外部干扰——电子设备或系统以外的因素对线路、设备或系统的影响。外部高电压、电源通过绝缘漏电而干扰电子线路、设备或系统。外部大功率的设备在空间产生很强的磁场，通过互感耦合干扰电子线路、设备或系统。空间电磁对电子线路或系统产生的干扰。工作环境温度不稳定，引起电子线路、设备或系统内部元器件参数改变造成的干扰。电磁干扰的传播途径1.当干扰源频率较高，且干扰信号波长比被干扰对象结构尺寸小，则干扰信号可认为是辐射场，以平面电磁波形式向外辐射电磁场能量，并进入被干扰对象的通路。
热像仪精度规格与不确定性方程式或许大家会注意到，大多数红外热像仪的数据规格手册上的精度规格会显示为±2℃或读数的2%。这仪规格数据基于广泛采用的名为“平方和根值”（RSS）不确定分析技术结果。这里需要说明的是，目前所讨论的计算值有效的条件是只有当热像仪用于实验室或户外短距离范围(20米以内)。由于大气吸收因素，还有影响程度较小的发射率因素，距离变长会增加测量值的不确定性。当红外热像仪的研发工程师在实验室条件下对大部分现代的红外热像仪系统采用“平方和根值”的分析方法时，所得结果近似为±2?C或2%—因此成为热像仪规格参数中使用的合理精度率。
使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。