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发布用户:yndlkj
发布时间:2024-06-17 05:53:55
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Y综合电力测量仪一览表
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相比APD,MPPC的增益可达到1^5~1^6,这样在理论上,可以在更短的时间内得到更长的距离信息,探测带宽也与APD不相上下。另外,拥有小而有效面积、更多像素结构的MPPC不仅具备较快的时间特性(上升时间仅1纳秒左右),还可利用它独特的光子分辨能力,将不同表面反射率的物体识别出来,从而达到测距同时分辨物体表面特性的目的。从这些性能上来看,MPPC非常适合脉冲测距法的应用,是自动驾驶上一维激光雷达的理想“小伙伴”。
EMI测试技术目前诊断差模共模干扰的三种方法:射频电流探头、差模网络、噪声分离网络。用射频电流探头是测量差模共模干扰 简单的方法,但测量结果与标准限值比较要经过较复杂的换算。差模网络结构比较简单,测量结果可直接与标准限值比较,但只能测量共模干扰。噪声分离网络是的方法,但其关键部件变压器的要求很高。目前干扰的几种措施形成电磁干扰的三要素是干扰源、传播途径和受扰设备。因而,电磁干扰也应该从这三方面着手。
本文将详细叙述IT65C系列电源电压正负切换功能。IT65C系列电源电压正负切换功能IT65C系列电源除具有双象限电流功能外,在一定条件下,还具有电压正负切换功能,其实现方式如下:电压(voltag作为电势差或电位差,是衡量单位电荷在静电场中由于电势不同所产生的能量差的物理量。其大小等于单位正电荷因受电场力作用从A点到B点所的功,电压的正方向规定为从高电位指向低电位的方向。通常意义上电压幅值的大小,主要取决于高电位与低电位的压差。
另外,晶体管也可能产生相似的爆裂噪声和闪烁噪声,其产生机理与电阻中微粒的不连续性相近,也与晶体管的掺杂程度有关。半导体器件产生的散粒噪声由于半导体PN结两端势垒区电压的变化引起累积在此区域的电荷数量改变,从而显现出电容效应。当外加正向电压升高时,N区的电子和P区的空穴向耗尽区运动,相当于对电容充电。当正向电压减小时,它又使电子和空穴远离耗尽区,相当于电容放电。当外加反向电压时,耗尽区的变化相反。当电流流经势垒区时,这种变化会引起流过势垒区的电流产生微小波动,从而产生电流噪声。
常用α-三氧化二铝(Al2O3)或煅烧过的氧化镁(MgO)或石英砂作参比物。如分析试样为金属,也可以用金属镍粉作参比物。如果试样与参比物的热性质相差很远,则可用稀释试样的方法解决,主要是减少反应剧烈程度;如果试样加热过程中有气体产生时,可以减少气体大量出现,以免使试样冲出。选择的稀释剂不能与试样有任何化学反应或催化反应,常用的稀释剂有Si铁粉、Fe2O玻璃珠Al2O等。纸速的选择在相同的实验条件下,同一试样如走纸速度快,峰的面积大,但峰的形状平坦,误差小;走纸速率小,峰面积小。
基于频偏功能进行混频器/变频器一致性测量,其特点包括:快速且有效的校准;复杂变频组件的相位一致性测量;多通道下多组数据一次性显示等特点。以下是以3672系列矢量网络分析仪为发出的,基于频偏功能的混频器/变频器一致性测量方案,对被测件无附加要求,可适用于各类混频器/变频器的一致性测试。测量连接示意图如下所示。连接示意图通过一次测量,即可得到测量混频器相对于校准混频器的一致性参数。每条轨迹都支持幅度、相位、群时延、史密斯圆图、极坐标等多种格式的显示。
由于不同的自动化层对通信系统的要求也大不相同,因此使用按照层划分的不同层的子系统的组合要比使用单个通用总线更合适。根据各个自动化层的要求使用不同的通信系统,如图2所示。图2生产自动化系统中分等级的网络结构其中现场总线系统作为工厂数字通信网络的层-现场层,实现了生产过程现场的设备装置之间的互联互通,并使生产过程的控制与更高的管理层紧密的在一起。采用现场总线、智能检测和执行设备后,可以得到更多的有关现场与设备的状态信息。